ID 4884925
Patterns of Enterprise Application Architecture
Автор: Мартин Фаулер, Дейвид Райс, Мэттью Фоммел, Эдвард Хайет, Роберт Ми, Рэнди Стаффорд
Языки: Русский
Издательство: Вильямс
ISBN 978-5-8459-1611-2, 0-321-12742-0; 2010 г.
Дополнительные характеристики
Ваша цена: +25,72
1 28600 руб.
На складе
Вес 822 г
Ожидаемая дата передачи в службу доставки 28 мая
Оценить:
Шаблоны корпоративных приложений
+
Приемы объектно-ориентированного проектирования. Паттерны проектирования
Ваша цена: +30,92
=1 54600 руб.
Мартин Фаулер
автор
Дейвид Райс
Мэттью Фоммел
Эдвард Хайет
Роберт Ми
Рэнди Стаффорд
Архитектура корпоративных программных приложений
Шаблоны реализации корпоративных приложений
Рефакторинг. Улучшение существующего кода
Предметно-ориентированное проектирование (DDD). Структуризация сложных программных систем
Принципы, паттерны и методики гибкой разработки на языке C#
Предметно-ориентированные языки программирования
Паттерны проектирования
PHP. Объекты, шаблоны и методики программирования
Шаблоны проектирования веб-приложений
JavaScript. Шаблоны
1
2
Полезен ли отзыв?
Отличная книга, 11 сентября 2011 г.
Назаров Михаил (Ростов-на-Дону, 28 лет) все отзывы
Книга понравилась. Что-то из описанного здесь было уже знакомо, что-то узнал новое, но в целом книга помогает систематизировать свои знания.
0
Плохое изложение информации., 07 января 2012 г.
Соколов Андрей (Москва, 29 лет) все отзывы
Слишком много умных слов а толку мало. Сначала вводится много терминов, а описываются гораздо позже. Примеры явно устарели. Способ изложения информации мне абсолютно не понравился.
16
12
Книга не понравилась. Очень трудно читается., 16 июля 2010 г.
Никишин Димитрий (Москва, 32 года) все отзывы
Книга не понравилась. Очень трудно читается т.к. стилистически тяжело написана или переведена так плохо + очень много воды.Также оформление текста оставляет желать лучшего: куски исходного кода - вообще нечитабельные: не содержат выделение ключевых слов + строчки кода не умещаются по длине и плывут, в то время же поля огромные (куча свободного неиспользованного места).